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专利名称：存储器试验装置专利类型：发明专利发明人：碁石优
申请号：CN97193086.4申请日：19971219公开号：CN1213455A公开日：19990407
摘要：一种对并行输入/并行输出型存储器和串行输入/串行输出型存储器进行试验的存储器试验装置,在对串行输入/串行输出型存储器进行试验时,能够将串行输出的读出数据中的失效数据按位分开,且在时间轴的不同时刻存储到不良解析存储器中,并能够确定不良位的位置。在逻辑比较器13的输出侧设置选取来自被试验存储器10之端子的输出的失效多路转换器14,在所述失效多选择器与不良解析存储器15之间设置位选择器17,在对串行输入/串行输出型存储器进行试验的时候,由该位选择器将从失效多路转换器输出的串行失效数据按位分开,且在时间轴的不同时刻提供给不良解析存储器,并在不良解析存储器中存储不良位的位置。
申请人：株式会社爱德万测试
地址：日本东京都
国籍：JP
代理机构：柳沈知识产权律师事务所
代理人：马莹
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