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专利名称：用于薄膜晶体管液晶显示器阵列测试的可配置式探
测器
专利类型：发明专利
发明人：马赛厄斯·布伦纳,希尼奇·库里塔,拉尔夫·施密德,费
伊兹·E·阿布德,本杰明·约翰斯顿,保罗·博悉安,伊曼纽尔·比尔
申请号：CN200510084720.1申请日：20050712公开号：CN1721867A公开日：20060118
摘要：提供用于电子装置测试系统的一改良式探测器。该探测器是″可配置式″的，其含意是适合不同装置配线布置(layout)及基板尺寸。该探测器通常包含：一框；至少一探测器棒，其具有第一末端和第二末端；一框连接机构，用以使该探测器棒能够沿着该框快速地重新配置至该框的选定点；以及沿着该探测器棒设置的复数个电接触针，用以在进行测试时使选定电子装置电连接一系统控制器。在一具体例中，该探测器用以测试如在一大面积基板上的薄膜晶体管。通常，该大面积基板是长方形，且该框亦是长方形。该电针可以沿着该探测器棒的轴长度方向移动，且可以选择性地调整来接触该基板上的选定导电区。
申请人：应用材料股份有限公司
地址：美国加利福尼亚州
国籍：US
代理机构：上海专利商标事务所有限公司
代理人：任永武
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