时钟频率测试电路

（12）发明专利说明书

（21）申请号 CN201210004410.4 （22）申请日 2012.01.06

（71）申请人 上海华虹集成电路有限责任公司

地址 201203 上海市浦东新区碧波路572弄39号

（10）申请公布号 CN103197139B

（43）申请公布日 2017.03.15

（72）发明人 徐云秀;柴佳晶

（74）专利代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司

代理人 戴广志

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

时钟频率测试电路

（57）摘要

本发明公开了一种时钟频率测试方

法，将测试时钟和被测试时钟分为快时钟和慢时钟，设置快时钟计数器对快时钟进行计数，设置慢时钟计数器对慢时钟进行计数；测试时的计数区间以慢时钟的计数区间为基准计数区间；系统启动测试后先启动慢时钟计数器进行计数，慢时钟计数器启动计数后再启动快时钟计数器进行计数；慢时钟计数器记满后停止计数，然后再停止快时钟计数器计数；以快时钟计数器停止计数的信号清除系统的测试启动位，读取快时钟计数器的

数值，根据快时钟计数器的计数值、慢时钟计数器的计数值和已知的测试时钟的频率计算被测试时钟的频率。本发明还公开了一种时钟频率测试电路。本发明能够在有限的测试时间内得到更为精确的测试结果。 法律状态

法律状态公告日2013-07-10 2014-12-24 2017-03-15

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权

法律状态

公开

实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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说明书

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